एक-स्टप इलेक्ट्रोनिक निर्माण सेवाहरू, तपाईंलाई PCB र PCBA बाट सजिलैसँग आफ्नो इलेक्ट्रोनिक उत्पादनहरू प्राप्त गर्न मद्दत गर्दछ।

AS6081 परीक्षण मानक

परीक्षण र निरीक्षण

न्यूनतम नमूना आकार

स्तर

 

 

ब्याच मात्रा 200 टुक्रा भन्दा कम छैन

ब्याच मात्रा: 1-199 टुक्रा (नोट 1 हेर्नुहोस्)

 

आवश्यक परीक्षण

 

 

ए स्तर

अनुबंध पाठ र encapsulation

 

 

A1

अनुबंध पाठ र प्याकेजिङ निरीक्षण (4.2.6.4.1) (गैर विनाशकारी)

सबै

सबै

 

उपस्थिति को निरीक्षण

 

 

A2

a समग्रमा (४.२.६.४.२.१) (गैर विनाशकारी)

सबै

सबै

 

b विवरण (4.2.6.4.2.2) (गैर विनाशकारी)

122 टुक्रा

१२२ टुक्रा वा सबै (१२२ टुक्रा भन्दा कम ब्याच मात्रा)

 

पुन: टाइपिङ र नवीकरण (हानिपूर्ण)

नोट 2 हेर्नुहोस्

नोट 2 हेर्नुहोस्

A3

टाइपिङका लागि विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3A) (हानिपूर्ण)

3 टुक्रा

3 टुक्रा

 

नवीकरणका लागि विलायक परीक्षण (4.2.6.4.3B) (हानिपूर्ण)

3 टुक्रा

3 टुक्रा

 

एक्स रे पत्ता लगाउने

 

 

A4

एक्स-रे पत्ता लगाउने (४.२.६.४.४) (गैर विनाशकारी)

45 टुक्रा

45 टुक्रा वा सबै (ब्याच मात्रा 45 टुक्रा भन्दा कम)

 

नेतृत्व पत्ता लगाउने (XRF वा EDS/EDX)

नोट ३ हेर्नुहोस्

नोट ३ हेर्नुहोस्

A5

XRF (नुकसानरहित) वा EDS/EDX (हानिपूर्ण) (4.2.6.4.5) (Anex C.1)

3 टुक्रा

3 टुक्रा

 

खुला आवरण आन्तरिक विश्लेषण (हानिपूर्ण)

नोट 6 हेर्नुहोस्

नोट 6 हेर्नुहोस्

A6

खुला आवरण (४.२.६.४.६) (हानिपूर्ण)

3 टुक्रा

3 टुक्रा

 

अतिरिक्त परीक्षण (कम्पनी र ग्राहक दुवै द्वारा सहमत)

 

 

 

पुन: टाइपिङ र नवीकरण (हानिपूर्ण)

नोट 2 हेर्नुहोस्

नोट 2 हेर्नुहोस्

A3 विकल्प

स्क्यानिङ इलेक्ट्रोन माइक्रोस्कोपी (4.2.6.4.3C) (हानिपूर्ण)

3 टुक्रा

3 टुक्रा

 

सतह मात्रात्मक विश्लेषण (4.2.6.4.3D) (गैर विनाशकारी)

5 टुक्रा

5 टुक्रा

 

गर्मी परीक्षण

 

 

बी स्तर

थर्मल चक्र परीक्षण (एनेक्स C.2)

सबै

सबै

 

विद्युतीय गुणहरूको परीक्षण

 

 

सी स्तर

विद्युतीय परीक्षण (Anex C.3)

116 टुक्रा

सबै

 

बुढ्यौली परीक्षण

 

 

डी स्तर

बर्न-इन परीक्षण (परीक्षण अघि र पछि) (एनेक्स C.4)

45 टुक्रा

45 टुक्रा वा सबै (ब्याच मात्रा 45 टुक्रा भन्दा कम)

 

कसरको पुष्टि (न्यूनतम चुहावट दर र अधिकतम चुहावट दर)

 

 

ई स्तर

कडापनको पुष्टि (न्यूनतम र अधिकतम चुहावट दर) (अनुलग्नक C.5)

सबै

सबै

 

ध्वनिक स्क्यानिङ परीक्षण

 

 

एफ स्तर

ध्वनिक स्क्यानिङ माइक्रोस्कोप (Anex C.6)

नियम द्वारा

नियम द्वारा

 

अन्य

 

 

G स्तर

अन्य परीक्षण र निरीक्षण

नियम द्वारा

नियम द्वारा

 

नोट:

1. 10 टुक्रा भन्दा कम ब्याचहरूको लागि, Cognizant इन्जिनियरहरूले, आफ्नो विवेकमा, परीक्षणको गुणस्तर र ग्राहकको सहमतिको अधीनमा, "हानिपूर्ण" परीक्षणको लागि नमूना आकारलाई 1 टुक्रामा घटाउन सक्छ।

2. पुन: टाइप गर्न र परीक्षण परिमार्जनका लागि नमूनाहरू "उपस्थिति परीक्षण - विवरण परीक्षण" को लागि ब्याचबाट चयन गर्न सकिन्छ।

3. नेतृत्व परीक्षण नमूनाहरू "उपस्थिति परीक्षण - विवरण परीक्षण" को लागि ब्याचबाट चयन गर्न सकिन्छ।

4. ओपन कभर परीक्षण नमूनाहरू "रिटाइपिङ र रिफर्बिशिङ टेस्ट" बाट गुज्रिरहेको ब्याचबाट चयन गर्न सकिन्छ।


पोस्ट समय: जुलाई-08-2023